Mikroskop PSM-1000

PSM1000

PSM1000 jest mikroskopem gotowym do pracy w warunkach OEM z najlepszą możliwą wydajnością obrazowania dla płaskich, odblaskowych próbek. Objektywy plan-apochromatyczne LWD w imponujący sposób odwzorowują zarówno elementy metalowe, jak i półprzewodniki. Duże pole widzenia z pionowym obrazem umożliwia szybką orientację i łatwą manipulację. Każda pozycja końcówki może być indywidualnie wyśrodkowana. Oznacza to, że szczegóły pozostają idealnie "w obrazie" przy zmianie powiększenia. Zastosowanie opcjonalnych objektywów z kompensacją parfokalności również eliminuje potrzebę ponownego ustawiania ostrości. Wysoka transmisja objektywów, w tym soczewek rurowych dla NUV (355nm) do NIR (1064nm), pozwala na integrację PSM1000 z systemami kontroli płytek. Mała szerokość kroku precyzyjnego ogniskowania umożliwia precyzyjną regulację płaszczyzny ogniskowej nawet przy dużych powiększeniach.

Specyfikacja System standardowy:

Koncepcja optyki: Optyka z transmisją od NUV do NIR

Tubusobserwacyjny: Tubus trójokularowy, typ Siedentopf

Kąt widzenia: Kąt widzenia 30º

Podział wiązki za pomocą trinotube: Przełączany 50:50/0:100 wizualny: Wyjście kamery

Odległość między źrenicami: 55-75 mm

Kompensacja dioptrii: +/- 5 dpt na obu okularach

Okulary: Szerokie pole WF10X/24mm, z kompensacją dioptrii

Rurka pośrednia: 3-krotny nosek z 1-krotnym UV/VIS (355-532nm), 1-krotnym IR/VIS (532-1064nm), 2-krotnym

Końcówka obiektywu: 4x, pozycje mogą być indywidualnie centrowane

Klasa jakości objektywów: Extra LWD Plan Apochromate

Obiektywy/zakres powiększeń: Opcjonalnie

Gwint obiektywu: M26X0.706

Typ statywu: Opcjonalny

Ostrość: Współosiowy napęd zgrubny/dokładny, regulowana prędkość

Dokładny przyrost ostrości: przyrost 1 μm

Zakres przesuwu w Z: 50 mm

Oświetlenie padające: Port do podłączenia oświetlenia współosiowego

Akcesoria wchodzące w zakres dostawy: Laserowe akcesoria bezpieczeństwa, tarcze dystansowe

Wymiary: dł. x szer. x wys. 333x218x277 mm