Odblaskowa szczelina drugiej generacji z 4 pozycjami do spektrografów Star’Ex
Ta szczelina „drugiej generacji” wykonana jest ze szkła kwarcowego (syntetycznego kwarcu) o wymiarach 16 mm kwadratowych i grubości 2 mm. Jedna strona jest pokryta powłoką antyrefleksyjną (w celu zmniejszenia efektu powidoków), natomiast druga strona jest pokryta nieprzepuszczającą światła warstwą chromu, z wyjątkiem wąskich otworów odpowiadających czterem szczelinom, które zostały wygrawerowane za pomocą precyzyjnej techniki fotolitograficznej.
Cztery niezależne szczeliny są rozmieszczone w kwadracie o szerokościach 14, 20, 26 i 32 µm. W środku znajduje się otwór o średnicy 25 µm. Szerokości szczelin są podane w rogach podłoża. Szczelina 14 mikrometrów jest idealna na przykład do spektrografii z małym teleskopem. Natomiast szczelina 32 mikrometrów jest bardziej odpowiednia do spektrografii o niskiej rozdzielczości i teleskopu o średnicy 300 mm. Końce każdej szczeliny są poszerzone o współczynnik 10 na długości 0,5 mm. Przedłużka ta ma dwie funkcje: (1) dostarczenie dodatkowych informacji o warunkach pracy instrumentu (stopień turbulencji atmosferycznych, wydajność instrumentu, jakość ustawień, ocena reakcji instrumentu); (2) umożliwienie rejestracji danych spektrofotometrycznych w celu ułatwienia kalibrowania widm w wartościach strumienia absolutnego. Każda szczelina ma długość 4 mm, dzięki czemu mogą rejestrować widmo obiektów o dużych powierzchniach kątowych, takich jak mgławice lub komety.
Centralny otwór o średnicy 25 µm jest wprawdzie niepozorny, ale stanowi znaczącą innowację. Otwór ten umożliwia bezpieczne i łatwe ustawienie spektrografu na stole bez konieczności stosowania teleskopu lub gwiaździstego nieba: otwór pełni funkcję sztucznej gwiazdy.
